对运行中悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,可选用测量介质损耗因数tanδ的方法。

分类: 电气试验技能鉴定大白皮 发布时间: 2024-01-19 08:00 浏览量: 0

对运行中悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,可选用测量介质损耗因数tanδ的方法。

A.正确

B.错误

正确答案是B