局部放电试验回路中设备的铁芯磁饱和产生的干扰。其原因为()。

分类: 五通题库(多选)--电气试验班 发布时间: 2024-01-19 13:07 浏览量: 0

局部放电试验回路中设备的铁芯磁饱和产生的干扰。其原因为()。

A.旋转电机干扰

B.磁密过高

C.与回路的电容发生谐振

D.检测仪频带在低限下频率的不稳定性

正确答案是BCD