红外热成像检测发现缺陷时，若是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据

分类: 变电运维五通判断题发布时间: 2024-01-19 18:17 浏览量: 0

红外热成像检测发现缺陷时，若是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。

A.正确

B.错误

正确答案是B

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