双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。

分类: 探伤判断题 发布时间: 2024-01-19 23:42 浏览量: 0

双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。

A.正确

B.错误

正确答案是A