双探头法中V形串列扫查主要是用来发现与检测面垂直的面积状缺陷。

分类: 探伤工(中级工理论) 发布时间: 2024-01-21 06:37 浏览量: 0

双探头法中V形串列扫查主要是用来发现与检测面垂直的面积状缺陷。

A.正确

B.错误

正确答案是B