检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。

分类: 陇南工务段题库(探伤工) 发布时间: 2023-12-01 12:13 浏览量: 1

检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。

A.正确

B.错误

正确答案是A