假定某晶片生产过程检测发现晶片的 DPU=1,缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为：
A.50%
B.0%
C.37% （注：需要计算机辅组计算）
D.10%
正确答案是C